国产chinesehdxxxx老太婆,办公室玩弄爆乳女秘hd,扒开腿狂躁女人爽出白浆 ,丁香婷婷激情俺也去俺来也,ww国产内射精品后入国产

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

簡(jiǎn)單了解下可靠性加速實(shí)驗(yàn)的理論依據(jù)

PCBA007 ? 來源:心植桂冠 ? 2023-01-08 09:25 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

1

阿倫尼斯計(jì)算模型

物理加速模型是基于對(duì)產(chǎn)品失效過程的物理化學(xué)解釋而提出的。一種典型的物理加速模型是阿倫尼斯(Arrhenius)模型,阿倫尼斯模型適用于單純考慮熱效應(yīng)試驗(yàn)的加速模型,當(dāng)溫度是影響產(chǎn)品老化及使用壽命的絕對(duì)因素時(shí),采用該加速模型來模擬整個(gè)壽命周期的可靠性表現(xiàn)。

加速因子公式表達(dá):

ad71948c-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

其中公式中各個(gè)參數(shù)代表的含義解釋如下:

AT,i:加速因子,在所有的加速模型中都是表達(dá)一個(gè)含義,也就相當(dāng)于加速系數(shù),計(jì)算出他就能將整個(gè)壽命周期時(shí)間轉(zhuǎn)換成加速試驗(yàn)的時(shí)間;就是我們要算出來的每個(gè)溫度點(diǎn)下的加速因子,比如i為1,則根據(jù)譜圖第一行來算出該條件下的加速因子,具體的含義就是比如說AT,1算出來為5000,則意味著如果想代替在-40°C 下工作的占6%比例的這段壽命時(shí)間,則等價(jià)的試驗(yàn)就是在T pruf下工作8212.5/5000個(gè)小時(shí)。e: 就是一個(gè)常數(shù),2.71828,在excel里面這里對(duì)應(yīng)的就是exp函數(shù)。

Ea:是析出故障的耗費(fèi)能量,又稱激活能。不同產(chǎn)品的激活能是不一樣的。一般來說,激活能的值在0.3ev~1.2ev之間;此數(shù)值也是由主機(jī)廠提供,這里給出的是0.45eV。

K:是玻爾茲曼常數(shù),其值為8.617385×10-5 ev/K;

Ttest:測(cè)試條件下(加速狀態(tài)下)的溫度值。此處的溫度值是絕對(duì)溫度值,以K(開爾文)作單位;就是指你想在什么溫度條件下進(jìn)行該加速試驗(yàn),通常情況為了達(dá)到最快的加速且不會(huì)損壞產(chǎn)品,我們會(huì)選擇溫度譜圖中的最高溫度,即80°C。

Tfield:是使用條件下(非加速狀態(tài)下)的溫度值。此處的溫度值是絕對(duì)溫度值,以K(開爾文)作單位

很多人不知道活化能Ea應(yīng)該選取那個(gè)值?其實(shí)不同的Ea對(duì)應(yīng)了不同的失效機(jī)理,下面表格是一些電子元器件在經(jīng)驗(yàn)累積得到推薦值。

ad8ff2d8-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

但是我們?cè)谧霎a(chǎn)品溫度加速時(shí),一般是針對(duì)整系統(tǒng),那么Ea應(yīng)該如何選取。通常情況下,根據(jù)經(jīng)驗(yàn)Ea可選取0.5~0.7eV.比如戴爾電腦對(duì)PC的Ea選取0.6eV,這個(gè)值也是多次試驗(yàn)的出來的平均值。這個(gè)Ea選取主要針對(duì)但應(yīng)力加速時(shí),如果有2個(gè)應(yīng)力以上,則無需考慮,可以通過試驗(yàn)結(jié)果計(jì)算出來。

阿倫尼斯模型有下述特點(diǎn):

(1)該模型反映的是產(chǎn)品某特性量與激活能和所施加應(yīng)力的關(guān)系;

(2)阿倫尼斯模型使用的壽命與溫度的表達(dá)形式及加速因子都是基于退化量相同導(dǎo)出的。這就為加速壽命試驗(yàn)提供了另外一條途徑,即利用某性能參數(shù)或特征量退化數(shù)據(jù)對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評(píng)定、推斷。

(3)從公式中可以看出,激活能越大,加速系數(shù)也越大,越容易被加速失效,加速試驗(yàn)效果越明顯;

(4)在激活能確定的情況下,溫度差越大,加速系數(shù)也越大;

【實(shí)操計(jì)算】:

案例:某一客戶需要對(duì)產(chǎn)品做105℃的高溫測(cè)試。據(jù)以往的測(cè)試經(jīng)驗(yàn),此種產(chǎn)品的激活能Ea取0.68最佳。對(duì)產(chǎn)品的使用壽命要求是10年,現(xiàn)可供測(cè)試的樣品有5個(gè)。若同時(shí)對(duì)5個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)試,需測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間才能滿足客戶要求?

解:

AF=EXP(Ea/k*(1/Tnormal-1/Tfeild))=exp(0.68/K*(1/((25+273)-1/(105+273)))=262

T測(cè)=Life/AF=10*365*24/262=333.73h

2

科芬曼森模型

科芬-曼森模型是適用于溫度沖擊試驗(yàn)的加速模型,反映了溫度交變應(yīng)力作用下的疲勞破壞。該方法成功地模擬了在溫度交變應(yīng)力作用下焊點(diǎn)的裂紋擴(kuò)展過程。

adc0dd1c-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

公式表達(dá) :

adeca8d4-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

ΔTtest:測(cè)試循環(huán)的高低溫之間的差值;

Acm:該模型的加速因子;

ΔTfild:溫度譜中平均溫度差異,一般產(chǎn)品終端會(huì)給出明確值;一般由主機(jī)廠給出,這里是40°C.

C:科芬-曼森指數(shù),它指的是溫度變化的加速率常數(shù),不同的失效類型對(duì)應(yīng)不同的值;一般由主機(jī)廠指定,它指的是溫度變化的加速率常數(shù),不同的失效類型對(duì)應(yīng)不同的值.據(jù)我所知,大眾和奔馳對(duì)該值都指定為2.5。

公式二:

ae18a704-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

Ntf:實(shí)際使用大概的循環(huán)數(shù);

Ntest:需要測(cè)試的循環(huán)數(shù);

知道循環(huán)數(shù),最高溫度(T max) 及最低溫度(T min)后,接下來就是該公式應(yīng)用起來最困難的部分,即怎么確定溫度變化速率以及在每個(gè)溫度點(diǎn)上的停留時(shí)間,有些情況下主機(jī)廠會(huì)直接指定相關(guān)參數(shù),比如下表就是一家主機(jī)廠給出的數(shù)據(jù),要求我們根據(jù)樣品的質(zhì)量來決定在每個(gè)溫度點(diǎn)的停留時(shí)間。

ae3a156a-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

最后,在確定溫度變化速率t speed)以及在每個(gè)溫度點(diǎn)上的停留時(shí)間(t holding time)后,就可以根據(jù)下面公式算出每個(gè)循環(huán)所需要的時(shí)間,再乘以上面算出的總循環(huán)數(shù),就能確定該溫度循環(huán)試驗(yàn)所需耗費(fèi)的總時(shí)間了。

ae6ea1ea-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

【實(shí)操計(jì)算】

假設(shè)一種產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中,每天會(huì)經(jīng)過兩個(gè)溫度交變的循環(huán),預(yù)計(jì)使用壽命是15年,失效因數(shù)是2.5,溫度變化范圍是-40°C,高溫是105°C,平均溫度變化是40°C,根據(jù)經(jīng)驗(yàn),高低溫到達(dá)的恒定的時(shí)間是35min,試計(jì)算如果采用循環(huán)加速壽命需要多少循環(huán),多長(zhǎng)時(shí)間?

Excel表格計(jì)算公式如下:

ae863b48-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

3

勞森模型Lawson

在阿倫紐斯模型的基礎(chǔ)上引入濕度應(yīng)力的影響,就是勞森模型。

aec2d080-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

公式如下:

af0fd4de-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

AT/RH:加速因子

b:常數(shù)(b = 5.57 x 10^-4)

EA:活化能(EA = 0,4 eV)

K:是玻爾茲曼常數(shù),其值為8.617385×10-5 ev/K;

Ttest:測(cè)試條件下(加速狀態(tài)下)的溫度值。此處的溫度值是絕對(duì)溫度值,以K(開爾文)作單位;

Tfield:是使用條件下(非加速狀態(tài)下)的溫度值。此處的溫度值是絕對(duì)溫度值,以K(開爾文)作單位

RHTest:測(cè)試期間的相對(duì)濕度,比如這里我們選擇93%RH。

RHFieldParked:實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的平均相對(duì)濕度(%),由主機(jī)廠給出;

因此根據(jù)上面的參數(shù),可以算出要想加速到65°C,93%RH則對(duì)應(yīng)的加速因子AT/RH為105.04。接下來再使用該公式來計(jì)算對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間t pruf:

af3ffd26-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

tFeldParken:就是指在主機(jī)廠要求的壽命期間內(nèi)汽車不運(yùn)行的時(shí)間,這里以極限的15年來考慮,即按照15年該車都不運(yùn)行的狀態(tài)來考慮此時(shí)間,15*365*24=131400h。

因此再結(jié)合上面算出的加速因子可以得知要想在65°C,93%RH的條件下來加速該試驗(yàn),則對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間約為1251小時(shí)。

4

隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)加速因子

振動(dòng)試驗(yàn)是指評(píng)定產(chǎn)品在預(yù)期的使用環(huán)境中抗振能力而對(duì)受振動(dòng)的實(shí)物或模型進(jìn)行的試驗(yàn)。根據(jù)施加的振動(dòng)載荷的類型把振動(dòng)試驗(yàn)分為正弦振動(dòng)試驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)兩種。

是模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、安裝及使用環(huán)境下所遭遇到的各種振動(dòng)環(huán)境影響,用來確定產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力。振動(dòng)試驗(yàn)是評(píng)定元器件、零部件及整機(jī)在預(yù)期的運(yùn)輸及使用環(huán)境中的抵抗能力。

在標(biāo)準(zhǔn)GB/T 21563-2008 軌道交通 機(jī)車車輛設(shè)備 沖擊和振動(dòng)試驗(yàn)中給出了試驗(yàn)時(shí)間和壽命時(shí)間與試驗(yàn)加速度和實(shí)際應(yīng)力加速度的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

af56cdda-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

Ts:運(yùn)行壽命/時(shí)間;Tt:試驗(yàn)時(shí)間;As:運(yùn)行加速度;At:試驗(yàn)加速度;M:金屬材料選擇4。

可以得到如下公式:

af786968-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

對(duì)于振動(dòng)加速度,如果不加說明,一般指振動(dòng)的峰值,即g。對(duì)隨機(jī)信號(hào),一般是取一段時(shí)間計(jì)算均方根的加速度,即g(RMS),rms是均方根值(有效值)的意思。

例如某產(chǎn)品進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn),加速度均方根值為0.7 grms,振動(dòng)時(shí)間是10 h;如果實(shí)際產(chǎn)品24 h處理工作狀態(tài),所面臨的振動(dòng)加速度是0.08 grms;可以計(jì)算出該產(chǎn)品耐振動(dòng)的運(yùn)行時(shí)間是Ts=10 h*(0.7/0.08)4=58 618 h≈6.5年。

5

艾琳模型-電壓應(yīng)力加速因子

產(chǎn)品除了環(huán)境應(yīng)力的作用外,電應(yīng)力的作用也不可忽視。電應(yīng)力也會(huì)促使器件內(nèi)部產(chǎn)生離子遷移、質(zhì)量遷移等,造成短路、絕緣擊穿短路失效等。

器件在電壓、電流或功率等電應(yīng)力作用下,應(yīng)力越強(qiáng)、失效速率越快,器件壽命越短。Eyring模型是Arrhenius模型的擴(kuò)展,用于溫度和電壓同時(shí)加速的試驗(yàn)項(xiàng)目。

af92ae72-8e88-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

β:電壓加速常數(shù)(0.5≤β≤1.0,根據(jù)不同失效機(jī)理,默認(rèn)值為1.0);Vstress:試驗(yàn)時(shí)應(yīng)力電壓(Stress voltage);Vuse:正常使用電壓(Operating voltage)

從艾琳模型模型中的電應(yīng)力加速因子計(jì)算模型可知,只有正向的電壓才有加速應(yīng)力,即試驗(yàn)電壓要高于額定電壓。例如:某電子產(chǎn)品額定輸入電壓為220 Vac,試驗(yàn)時(shí)輸入電壓為250 Vac。計(jì)算出AF(v)=1.12。

6

結(jié)束語

加速壽命試驗(yàn)技術(shù)具有效率高,成本低,對(duì)高可靠、長(zhǎng)壽命產(chǎn)品的定壽延壽研究具有重要的應(yīng)用價(jià)值。目前加速壽命試驗(yàn)技術(shù)在汽車領(lǐng)域應(yīng)用都較為廣泛,并取得了一定研究成果。如汽車儀表、LED等都形成了各自的壽命評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)。隨著研究的不斷深入,加速壽命試驗(yàn)技術(shù)在各個(gè)領(lǐng)域?qū)⒂袕V闊應(yīng)用前景。






審核編輯:劉清

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • led
    led
    +關(guān)注

    關(guān)注

    242

    文章

    23847

    瀏覽量

    674230
  • RMS
    RMS
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    151

    瀏覽量

    36746
  • 額定電壓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    348

    瀏覽量

    14721

原文標(biāo)題:淺談可靠性加速實(shí)驗(yàn)的理論依據(jù)

文章出處:【微信號(hào):心植桂冠,微信公眾號(hào):心植桂冠】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    關(guān)于LED燈具的9種可靠性測(cè)試方案

    LED燈具的可靠性試驗(yàn),與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場(chǎng),因此無法簡(jiǎn)單地沿用傳統(tǒng)燈具的測(cè)試方法。那么,LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗(yàn)?zāi)???biāo)準(zhǔn)名稱:LED
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?223次閱讀
    關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試方案

    提升功率半導(dǎo)體可靠性:推拉力測(cè)試機(jī)在封裝工藝優(yōu)化中的應(yīng)用

    。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將介紹如何通過Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)等設(shè)備,系統(tǒng)研究了塑封功率器件分層的失效機(jī)理,分析了材料、工藝等因素對(duì)分層的影響,并提出了針對(duì)的工藝改進(jìn)方案,為提高塑封功率器件的可靠性提供了理論依據(jù)和實(shí)
    的頭像 發(fā)表于 06-05 10:15 ?231次閱讀
    提升功率半導(dǎo)體<b class='flag-5'>可靠性</b>:推拉力測(cè)試機(jī)在封裝工藝優(yōu)化中的應(yīng)用

    可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設(shè)備,都需要經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行,為用戶提供可靠的使用體驗(yàn)。那么,
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?346次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    抗輻照加固CANFD芯片:以車規(guī)級(jí)設(shè)計(jì)提升商業(yè)航天系統(tǒng)可靠性

    例,通過對(duì)芯片單粒子效應(yīng)脈沖激光試驗(yàn)報(bào)告、數(shù)據(jù)手冊(cè)及芯片測(cè)試報(bào)告的分析,闡述車規(guī)級(jí)設(shè)計(jì)在提升芯片抗輻照性能、功能安全和環(huán)境適應(yīng)等方面的關(guān)鍵作用,為商業(yè)航天電子設(shè)備的國(guó)產(chǎn)化和高性能發(fā)展提供了理論依據(jù)和技術(shù)支持。 關(guān)鍵詞:抗輻照
    的頭像 發(fā)表于 05-30 13:46 ?235次閱讀

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析

    方法。各種技術(shù)措施合理搭配才能有效地提高電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的可靠性。 在電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的研制過程中,系統(tǒng)的可靠性是一個(gè)很重要的問題。一個(gè)系統(tǒng)調(diào)試完成后,往往可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)正常運(yùn)行,但卻不能在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?1029次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    從IGBT模塊大規(guī)模失效爆雷看國(guó)產(chǎn)SiC模塊可靠性實(shí)驗(yàn)的重要

    深度分析:從IGBT模塊可靠性問題看國(guó)產(chǎn)SiC模塊可靠性實(shí)驗(yàn)的重要 某廠商IGBT模塊曾因可靠性問題導(dǎo)致國(guó)內(nèi)光伏逆變器廠商損失數(shù)億元,這一
    的頭像 發(fā)表于 03-31 07:04 ?437次閱讀

    詳解晶圓級(jí)可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速、低成本的
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:50 ?684次閱讀
    詳解晶圓級(jí)<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)技術(shù)

    集成電路前段工藝的可靠性研究

    在之前的文章中我們已經(jīng)對(duì)集成電路工藝的可靠性進(jìn)行了簡(jiǎn)單的概述,本文將進(jìn)一步探討集成電路前段工藝可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 03-18 16:08 ?846次閱讀
    集成電路前段工藝的<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)是一個(gè)綜合的過程,涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)概述、可靠性評(píng)價(jià)的技術(shù)特點(diǎn)、可靠性評(píng)價(jià)的測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?543次閱讀
    半導(dǎo)體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)

    產(chǎn)品可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的使用條件下和一定時(shí)間內(nèi),能夠正常運(yùn)行而不發(fā)生故障的能力。它是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),對(duì)提高客戶滿意度和復(fù)購率具有重要影響。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家提供檢測(cè)、鑒定、認(rèn)證和研發(fā)服務(wù)
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:36 ?812次閱讀
    半導(dǎo)體封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)

    多顆DAC輸出并聯(lián)提高THD+N,動(dòng)態(tài),信噪比有什么理論依據(jù)?

    請(qǐng)問多顆DAC輸出并聯(lián)提高THD+N,動(dòng)態(tài),信噪比有何理論依據(jù)
    發(fā)表于 11-08 07:21

    PCB高可靠性化要求與發(fā)展——PCB高可靠性的影響因素(上)

    在電子工業(yè)的快速發(fā)展中,印刷電路板(PCB)的可靠性始終是設(shè)計(jì)和制造的核心考量。隨著集成電路(IC)的集成度不斷提升,PCB不僅需要實(shí)現(xiàn)更高的組裝密度,還要應(yīng)對(duì)高頻信號(hào)傳輸?shù)奶魬?zhàn)。這些趨勢(shì)對(duì)PCB
    的頭像 發(fā)表于 10-11 11:20 ?1326次閱讀
    PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>化要求與發(fā)展——PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>的影響因素(上)

    深入了解IXYS固態(tài)繼電器:可靠性與應(yīng)用領(lǐng)域的完美結(jié)合

    )、整流橋、二極管、DCB 模塊、功率模塊、混合模塊 (Hybrid) 和晶體管等多種電子元器件。其中,固態(tài)繼電器是 IXYS 的重要產(chǎn)品,具有高可靠性、長(zhǎng)壽命、無機(jī)械磨損等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于工業(yè)自動(dòng)化、通信
    發(fā)表于 08-27 15:26