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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
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日本東京——愛德萬測(cè)試有限公司和美國W2BI公司在原則上達(dá)成共識(shí)愛德萬測(cè)試將收購W2BI公司,一個(gè)著重于無線通訊的系統(tǒng)級(jí)自動(dòng)測(cè)試軟件供應(yīng)商。W2BI總部...
2013-05-31 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試愛德萬測(cè)試W2BI 2073 0
NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,助力半導(dǎo)體和移動(dòng)測(cè)試
NI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)憑借其快速自動(dòng)化測(cè)量、功能強(qiáng)大的儀器結(jié)構(gòu)和經(jīng)簡化的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)過程,可降低測(cè)試成本。還集成了高級(jí)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能,形...
2012-12-04 標(biāo)簽:PXI半導(dǎo)體測(cè)試NI公司 1572 0
Q-Tip Mercury測(cè)試座在全三溫范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最佳初檢合格率
日前,Multitest公司宣布其配置Q-tip的Mercury測(cè)試座在一家美國整合元件制造商處成功通過為期兩個(gè)月的評(píng)估—在東南亞進(jìn)行的測(cè)試作業(yè)中,超過...
2012-11-06 標(biāo)簽:測(cè)試座Multitest半導(dǎo)體測(cè)試 1513 0
NI公司以領(lǐng)先的通道密度擴(kuò)充SMU系列產(chǎn)品
NI推出新的PXI SMU系列產(chǎn)品,適用于自動(dòng)化半導(dǎo)體測(cè)試。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取樣率為600,000,具有4個(gè)通道,堪稱通道密度...
2012-09-14 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試SMU半導(dǎo)體測(cè)試 1934 0
愛德萬力拼2014年自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)市占超過50%目標(biāo)
愛德萬(Advantest)力拼2014年市占超過50%的目標(biāo)。自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)龍頭愛德萬在完成收購惠瑞捷(Verigy)的作業(yè)后,正全力展開新...
2012-05-21 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試愛德萬 1841 0
Cirrus Logic雙通道功率放大器助力半導(dǎo)體和平板顯示器測(cè)試設(shè)備
Cirrus Logic公司(納斯達(dá)克代碼:CRUS)宣布拓展Apex Precision Power?放大器產(chǎn)品系列,推出一款新的雙通道升壓放大器產(chǎn)品...
2012-04-16 標(biāo)簽:功率放大器半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量芯片 1380 0
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的關(guān)鍵問題之一:探針的接觸電阻
通常,參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件(DUT),然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為:從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭,再通過測(cè)試頭...
2012-03-28 標(biāo)簽:探針接觸電阻半導(dǎo)體測(cè)試 8554 0
吉時(shí)利儀器推出高功率半導(dǎo)體測(cè)試的高壓系統(tǒng)電源電表儀器
吉時(shí)利儀器公司推出型號(hào)2657A高功率系統(tǒng)電源電錶儀器。2657A的推出,為吉時(shí)利儀器高速、高精度電源量測(cè)單元2600A產(chǎn)品系列增加了高電壓的功能。這些...
2012-03-28 標(biāo)簽:吉時(shí)利儀器半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量芯片 1870 0
吉時(shí)利推為高功率半導(dǎo)體測(cè)試優(yōu)化的高電壓數(shù)字源表
吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數(shù)字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測(cè)量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉...
2012-03-20 標(biāo)簽:吉時(shí)利半導(dǎo)體測(cè)試 1048 1
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