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標(biāo)簽 > 可靠性測試
可靠性測試就是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。
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光電子器件,作為現(xiàn)代科技中光電轉(zhuǎn)換效應(yīng)的結(jié)晶,扮演著越來越重要的角色。它們不僅能夠?qū)崿F(xiàn)光信號的產(chǎn)生和調(diào)制,還能進(jìn)行信號的探測、連接、能量的分配與調(diào)整、信...
GaN可靠性測試新突破:廣電計(jì)量推出高壓性能評估方案
氮化鎵(GaN),作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料,憑借卓越的功率轉(zhuǎn)換效率、超快的開關(guān)速度以及出色的耐高溫性能,在5G通信、新能源汽車、數(shù)據(jù)中...
使用Keithley 4200-SCS半導(dǎo)體表征系統(tǒng)進(jìn)行氧化物可靠性測試
氧化物完整性是一個重要的可靠性問題,特別對于今天大規(guī)模集成電路的MOSFET器件, 其中氧化物厚度已經(jīng)縮放到幾個原子層。JEDEC 35標(biāo)準(zhǔn) (EIA/...
高可靠繼電器作為一種關(guān)鍵電子控制器件,在電力保護(hù)、自動化控制、通信等領(lǐng)域中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其設(shè)計(jì)與制造過程必須嚴(yán)格遵循高標(biāo)準(zhǔn),以確保在復(fù)雜和惡劣的...
推拉力測試機(jī)在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用,設(shè)備功能、技術(shù)指標(biāo)及安裝要求
最近有客戶在網(wǎng)站上咨詢芯片焊接強(qiáng)度測試設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體激光器。半導(dǎo)體激光器廣泛應(yīng)用在雷達(dá),遙控遙測,航空航天等應(yīng)用中。對其可靠性提出了越來越高的要求...
2024-06-07 標(biāo)簽:半導(dǎo)體試驗(yàn)機(jī)可靠性測試 1472 0
高溫柵偏(HighTemperatureGateBias,HTGB)、高溫反偏(HighTemperatureReverseBias,HTRB)、高溫高...
2024-04-23 標(biāo)簽:功率器件可靠性測試半導(dǎo)體服務(wù) 3105 0
可靠性測試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別
電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么...
2024-01-30 標(biāo)簽:可靠性測試可靠性試驗(yàn)HALT 1748 0
在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場,公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,...
半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)介紹
本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性,及機(jī)械可...
2024-01-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體封裝可靠性測試 7084 0
高溫試驗(yàn)是晶振在高溫條件下工作一段時間后,評定高溫對晶振的電氣和機(jī)械性能的影響;或者長時間高溫存儲(不帶電)后,評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性,可參照標(biāo)準(zhǔn)GJB ...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱為什么會出現(xiàn)冰堵現(xiàn)象?
冷熱沖擊試驗(yàn)箱按其內(nèi)箱分為兩箱式和三箱式,并不是說其區(qū)別是兩箱和三箱,而是在于試驗(yàn)測試方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行...
2023-06-15 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱可靠性測試冷熱沖擊試驗(yàn)箱 870 0
碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用,具有眾多自身優(yōu)勢和技術(shù)優(yōu)勢,它所制成的功率器件在生活中運(yùn)用十分廣泛,越來越無法離開,因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程...
可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),如果在規(guī)定時間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障...
高度加速壽命測試是什么 高度加速壽命測試技術(shù)細(xì)節(jié)
高度加速壽命測試(HALT)是一種加速的環(huán)境測試過程,用于評估和提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)和組件/材料的耐用性。產(chǎn)品的堅(jiān)固性是最終可靠性性能的直接指標(biāo)。高度加速壽命測...
2023-07-20 標(biāo)簽:傳感器自動化系統(tǒng)監(jiān)測設(shè)備 732 0
可靠性/可用性驗(yàn)證測試FIT:定義及目的 FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故...
PCB電路板在今天的生活中發(fā)揮著重要作用。它是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路。就這一點(diǎn)而言,PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵。 要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測試...
反復(fù)短路測試測試說明:在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動恢復(fù)正常運(yùn)行。
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