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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
用于全面考察被試運(yùn)用語言的能力，考察能否把所掌握的語言知識(shí)要素綜合起來并加以運(yùn)用。
標(biāo)準(zhǔn)化測試和非標(biāo)準(zhǔn)化測試。
標(biāo)準(zhǔn)化測驗(yàn)特指采用客觀性試題的、標(biāo)有信度、效度、難度、區(qū)分度等各種測量學(xué)指標(biāo)的、建立了常模的、在統(tǒng)一的環(huán)境和條件下施測的、由專業(yè)機(jī)構(gòu)或?qū)I(yè)人士開發(fā)或參與、指導(dǎo)開發(fā)的測試。主要包括四個(gè)環(huán)節(jié)：1、試題編制的標(biāo)準(zhǔn)化2、測驗(yàn)實(shí)施的標(biāo)準(zhǔn)化3、閱卷評(píng)分的標(biāo)準(zhǔn)化4、分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)化與解釋的標(biāo)準(zhǔn)化。
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
用于全面考察被試運(yùn)用語言的能力，考察能否把所掌握的語言知識(shí)要素綜合起來并加以運(yùn)用。
標(biāo)準(zhǔn)化測試和非標(biāo)準(zhǔn)化測試。
標(biāo)準(zhǔn)化測驗(yàn)特指采用客觀性試題的、標(biāo)有信度、效度、難度、區(qū)分度等各種測量學(xué)指標(biāo)的、建立了常模的、在統(tǒng)一的環(huán)境和條件下施測的、由專業(yè)機(jī)構(gòu)或?qū)I(yè)人士開發(fā)或參與、指導(dǎo)開發(fā)的測試。主要包括四個(gè)環(huán)節(jié)：1、試題編制的標(biāo)準(zhǔn)化2、測驗(yàn)實(shí)施的標(biāo)準(zhǔn)化3、閱卷評(píng)分的標(biāo)準(zhǔn)化4、分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)化與解釋的標(biāo)準(zhǔn)化。
今天給大家分享一下示波器1MΩ和50Ω輸入阻抗使用問題。打開示波器通道，會(huì)發(fā)現(xiàn)這里有1MΩ和50Ω的選擇。大家可能會(huì)疑惑，如果用無源探頭接上它，是應(yīng)該選...
CELVD測試報(bào)告，是指依據(jù)歐盟《低電壓指令》2014/35/EU（LowVoltageDirective，簡稱LVD）相關(guān)安全標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)電子電氣產(chǎn)品進(jìn)行...
CE-LVD認(rèn)證，是指依據(jù)歐盟低電壓指令（LowVoltageDirective，2014/35/EU）進(jìn)行的電氣安全合規(guī)性評(píng)估。它是CE認(rèn)證體系中的一...
差示掃描量熱法在環(huán)氧樹脂固化率的測試應(yīng)用
差示掃描量熱儀是一種用于研究材料熱性能的分析儀器，通過測量樣品與參比物在程序控溫下的熱流差異，分析材料的熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)特性。被廣泛應(yīng)用在多個(gè)領(lǐng)域，其中包...
從衛(wèi)星通信設(shè)計(jì)到測試方案全流程解析
衛(wèi)星通信正處于前所未有的火熱階段，成為全球通信體系變革的關(guān)鍵引擎和戰(zhàn)略制高點(diǎn)。隨著低軌衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展加速，衛(wèi)星通信不再局限于傳統(tǒng)的地面站傳輸，而是全面...
跌落測試的 “預(yù)測性維護(hù)”：通過沖擊數(shù)據(jù)預(yù)判產(chǎn)品潛在故障
在產(chǎn)品的全生命周期中，潛在故障如同隱藏的 “定時(shí)炸彈”，隨時(shí)可能在運(yùn)輸、使用等環(huán)節(jié)因跌落沖擊而引爆。傳統(tǒng)跌落測試僅能判斷產(chǎn)品當(dāng)下是否完好，卻無法洞察深層...
2025-07-15 標(biāo)簽：測試試驗(yàn)機(jī)沖擊 96 0
本文導(dǎo)讀你是否好奇過空調(diào)、冰箱上那張小小的能效標(biāo)識(shí)？從1級(jí)到5級(jí)，這些數(shù)字背后藏著怎樣的技術(shù)秘密？隨著家電行業(yè)向變頻技術(shù)轉(zhuǎn)型，傳統(tǒng)測試方法面臨新挑戰(zhàn)，高...
車電子控制裝置的應(yīng)用越來越每廣泛，每個(gè)電子控制裝置都包括傳感器、電控單元、執(zhí)行機(jī)構(gòu)三部分。它是采用傳感器監(jiān)控汽車的總成的工作狀況，并將相關(guān)信息傳給電控單...
GM0-5602WIN11下測試mic以及l(fā)ine-in功能
GM0-5602先打網(wǎng)卡驅(qū)動(dòng)并配置兩個(gè)網(wǎng)口 橋接網(wǎng)卡配置 #進(jìn)入網(wǎng)絡(luò)腳本路徑 cd /etc/sysconfig/network-scripts/ #創(chuàng)...
鍵合焊點(diǎn)剪切力測試用設(shè)備，測試過程及測試結(jié)果
在電子封裝領(lǐng)域中，鍵合技術(shù)是有著廣泛的應(yīng)用，面對(duì)封裝密度不斷提高、焊點(diǎn)節(jié)距不斷下降和成本持續(xù)降低等挑戰(zhàn)，需要更了解鍵合技術(shù)，進(jìn)行更多的鍵合的研究。 當(dāng)研...
【資料獲取】ADAS車道輔助系統(tǒng)測試方法解析立即下載
類別：電子資料 2025-06-08 標(biāo)簽：測試ADAS系統(tǒng)
UHV-409高壓開關(guān)機(jī)械特性磨合裝置操作使用立即下載
類別：實(shí)用工具 2025-04-29 標(biāo)簽：測試控制器高壓開關(guān)
DDL系列全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置操作使用立即下載
類別：實(shí)用工具 2025-03-14 標(biāo)簽：測試通信電氣調(diào)試
中國航天科工集團(tuán)二院203所梅光宗書記一行赴昱櫟技術(shù)調(diào)研交流
7月14日，中國航天科工集團(tuán)二院203所黨委書記梅光宗一行前往北京昱櫟技術(shù)有限公司（以下簡稱“昱櫟技術(shù)”）開展調(diào)研交流活動(dòng)。活動(dòng)中，雙方圍繞研發(fā)生產(chǎn)、平...
風(fēng)力渦輪機(jī)安全措施的符合標(biāo)準(zhǔn)的測試
本文深入探討風(fēng)力渦輪機(jī)的電氣安全測試要求，涵蓋歐盟法規(guī)（如BetrSichV、DGUV）、VDE標(biāo)準(zhǔn)（0140/100系列）及關(guān)鍵測試項(xiàng)目（絕緣電阻、回...
HI1105模塊在無線圖傳，特別是遠(yuǎn)距離無線圖傳領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用，產(chǎn)品認(rèn)證過程需要牽涉到定頻測試，分享以下步驟參考！ 主要牽涉到：11a測試、11n(H...
2025-07-14 標(biāo)簽：測試 83 0
北京航空航天大學(xué)劉濤教授一行赴北京昱櫟技術(shù)有限公司考察調(diào)研
7月11日，北京航空航天大學(xué)生物與醫(yī)學(xué)工程學(xué)院教授、博士生導(dǎo)師，兼任國家神經(jīng)系統(tǒng)疾病臨床醫(yī)學(xué)研究中心人工智能中心主任劉濤，北京聯(lián)影研究院徐可總監(jiān)一行前往...
2025-07-14 標(biāo)簽：測試實(shí)驗(yàn)室 259 0
隆基最新Nature：非對(duì)稱自組裝分子刷新鈣鈦礦/硅疊層電池效率至34.58%！
在絨面硅基板上實(shí)現(xiàn)高有序、均勻覆蓋的自組裝單分子層（SAMs）是提升鈣鈦礦/硅疊層電池（TSCs）效率的關(guān)鍵難題。本文開發(fā)了一種不對(duì)稱自組裝單分子層HT...
會(huì)議邀請(qǐng)| Aigtek誠邀您蒞臨第十九屆全國壓電和聲波理論及器件應(yīng)用研討會(huì)！
2025年7月21-24日，由中國力學(xué)學(xué)會(huì)、中國聲學(xué)學(xué)會(huì)和IEEE-UFFC分會(huì)主辦的第十九屆全國壓電和聲波理論及器件應(yīng)用研討會(huì)將在新疆石河子召開，屆時(shí)...
北京 9月11日-13日《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測試及案例分析》公開課即將開始！
課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測試及案例分析》講師：王老師時(shí)間地點(diǎn)：北京9月11日-13日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1、案例多，案例均來自于電路設(shè)計(jì)缺...
2025-07-10 標(biāo)簽：測試可靠性設(shè)計(jì)硬件電路 99 0
普源精電推出多通道波形發(fā)生器和SPQ數(shù)字化陣列測控系統(tǒng)
近日，普源精電(RIGOL)發(fā)布DG5000 Pro多通道波形發(fā)生解決方案以及SPQ數(shù)字化陣列測控系統(tǒng)，幫助客戶應(yīng)對(duì)更多復(fù)雜測試場景。
2025-07-10 標(biāo)簽：測試普源精電任意波形發(fā)生器 487 0
吉時(shí)利數(shù)字源表2600B與2450在功率器件測試中的性能差異分析
吉時(shí)利（Keithley）作為測試測量領(lǐng)域的領(lǐng)先品牌，其數(shù)字源表產(chǎn)品憑借高精度、多功能性和靈活性在電子測試中廣泛應(yīng)用。其中，2600B和2450系列數(shù)字...
Keithley 2450數(shù)字源表納米級(jí)材料測試的精密利器
納米科技的快速發(fā)展推動(dòng)了電子器件微型化、高性能化進(jìn)程，納米材料如石墨烯、碳納米管、有機(jī)半導(dǎo)體等成為前沿研究的核心。然而，納米尺度下電學(xué)特性的精確測量面臨...
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