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標(biāo)簽 > 測試系統(tǒng)
《測試系統(tǒng)》對機(jī)電液測試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說明了多路巡回檢測數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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用于地?zé)醿?chǔ)層的地下活動(dòng)和封存二氧化碳的連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)
隨著氣候變化作的全球挑戰(zhàn),日本的研究人員創(chuàng)建的一個(gè)新系統(tǒng)可以由來幫助科學(xué)家們應(yīng)對這樣嚴(yán)峻的難題。
2023-02-24 標(biāo)簽:監(jiān)測系統(tǒng)測試系統(tǒng)二氧化碳 494 0
功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)選型避坑指南
動(dòng)態(tài)特性是功率器件的重要特性,在器件研發(fā)、系統(tǒng)應(yīng)用和學(xué)術(shù)研究等各個(gè)環(huán)節(jié)都扮演著非常重要的角色。故對功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行測試是相關(guān)工作的必備一環(huán),主要采用...
2023-02-10 標(biāo)簽:MOSFET測試系統(tǒng)分立器件 698 0
采用高性能的雙核嵌入式CPU模塊,內(nèi)存容量不低于2GByte,強(qiáng)大的運(yùn)算能力和大容量存儲(chǔ)能力為高采樣率和超長傅里葉時(shí)間窗提供強(qiáng)有力保障。
2023-02-08 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)發(fā)電機(jī)電磁干擾 878 0
質(zhì)子交換膜燃料電池變溫度條件下平面內(nèi)分區(qū)電化學(xué)阻抗譜的量化和對比分析
在質(zhì)子交換膜燃料電池平面內(nèi)分區(qū)電化學(xué)阻抗譜(Electrochemical impedance spectroscopy, EIS)分布的研究中,雖然分...
2023-02-02 標(biāo)簽:燃料電池電化學(xué)測試系統(tǒng) 2907 0
淺談線束導(dǎo)通EMDEP的測試系統(tǒng)及模塊
●EMDEP卡釘測試的解決方案包括了任何布局,形狀和尺寸的卡釘測試;并支持不同標(biāo)準(zhǔn)的測試模塊,比如氣動(dòng),混合鎖,自動(dòng)鎖以及無線測試模塊。
2023-01-16 標(biāo)簽:測試系統(tǒng) 2132 0
解決方案|模擬/混合IC集成電路自動(dòng)測試系統(tǒng)NSAT-2000
模擬/混合集成電路自動(dòng)測試系統(tǒng)主要是指針對以模擬信號(hào)電路、混合信號(hào)電路(以模擬為主,數(shù)字為輔)為主的集成電路測試而設(shè)計(jì)的自動(dòng)測試系統(tǒng),被測電路主要包括電...
2023-01-13 標(biāo)簽:放大器測試系統(tǒng)混合集成電路 2306 0
從PIC芯片至800G/1.6T系統(tǒng)測試解決方案
強(qiáng)大的自動(dòng)化水平:用于自動(dòng)化測試流程和數(shù)據(jù)管理的完整軟件套件;執(zhí)行復(fù)雜邏輯,如搜索、優(yōu)化和并行執(zhí)行;先進(jìn)的導(dǎo)航工具、可移植序列和邏輯學(xué)
2023-01-05 標(biāo)簽:晶圓測試系統(tǒng) 1460 0
模具電池溫度-壓力測試系統(tǒng)通過模擬電池工作原理,研究各種材料體系的電池在不同溫度環(huán)境下,充放電過程中系統(tǒng)堆疊壓力的變化情況。
2023-01-05 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)模擬電池固態(tài)電池 468 0
基于單片機(jī)的車載超級(jí)電容測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
隨著科技的進(jìn)步,電動(dòng)汽車技術(shù)也得到了迅速的發(fā)展;相比內(nèi)燃機(jī)汽車,電動(dòng)汽車具有零排放、高能量效率、低噪聲、低熱輻射、易操縱和易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn),將是未來汽車發(fā)展...
2022-12-13 標(biāo)簽:單片機(jī)測試系統(tǒng)超級(jí)電容 1652 0
本文來自“專用數(shù)據(jù)處理器(DPU)性能基準(zhǔn)評(píng)測方法與實(shí)現(xiàn)(2022)”介紹 DPU 性能測試系統(tǒng)框架與測試流程,包括測試系統(tǒng)、測試要求、測試活動(dòng)三部分。...
2022-12-02 標(biāo)簽:cpu測試系統(tǒng)DPU 3318 0
一文解析車身域控制器通用測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案
隨著汽車芯片計(jì)算能力的提升,域控制器逐步成為汽車電子行業(yè)的研究熱點(diǎn)。相比于分布式架構(gòu),即不同的電子電氣功能放在不同的電控系統(tǒng)上,域控制器更加專注于系統(tǒng)方...
2022-11-11 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)HIL域控制器 2427 0
宏控UTP協(xié)同自動(dòng)化測試系統(tǒng)的功能介紹
嵌入式系統(tǒng)一般是產(chǎn)品的核心單元, 嵌入式系統(tǒng)是否可靠決定了整個(gè)產(chǎn)品的質(zhì)量好壞,如果能在產(chǎn)品的早期階段對嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行充分和全面的測試,將會(huì)很大程度提高產(chǎn)...
2022-10-10 標(biāo)簽:嵌入式系統(tǒng)測試系統(tǒng)UTP 2412 0
電力電纜中的絕緣缺陷會(huì)在電場應(yīng)力的作用下產(chǎn)生局部放電,局部放電激發(fā)的電壓行波沿著電纜向兩端傳播,通過測量這個(gè)脈沖,可以測量電纜中的局部放電信號(hào),評(píng)估該局...
2022-10-08 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)振蕩 5632 0
晶圓測試系統(tǒng)需要?jiǎng)?chuàng)建晶圓上所有Mini LED Mapping,以采集關(guān)鍵屬性數(shù)據(jù)。在晶粒繪圖過程完成之后,機(jī)器將根據(jù)質(zhì)量對單個(gè)Mini LED晶粒進(jìn)行...
2022-10-08 標(biāo)簽:讀碼器晶圓測試系統(tǒng) 1665 0
對應(yīng)電臺(tái)為脈沖工作方式,應(yīng)采用峰值或準(zhǔn)峰值檢波方式對擬測試頻段進(jìn)行測量。 對應(yīng)電臺(tái)為連續(xù)波工作方式,應(yīng)采用均方根值或平均值檢波方式對擬測試頻段進(jìn)行測量。
2022-09-16 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)電磁 1433 0
聯(lián)合使用vTESTstudio,進(jìn)行自動(dòng)化測試
vTESTstudio是Vector公司專為ECU自動(dòng)化測試而研發(fā)的測試用例編寫軟件,可用于從模型測試到系統(tǒng)確認(rèn)的所有開發(fā)階段。它集成了多種用例編輯方法...
2022-09-13 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)CANoe測試用例 1582 0
模具電池溫度-壓力測試系統(tǒng)通過模擬電池工作原理,研究各種材料體系的電池在不同溫度環(huán)境下,充放電過程中系統(tǒng)堆疊壓力的變化情況。
2022-07-29 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)模擬電池 1328 0
路上可以看到各種各樣的充電樁,充電樁只是充電站電氣系統(tǒng)的一部分。一個(gè)完整的充電站電氣系統(tǒng)包括三個(gè)部分:供電系統(tǒng)、充電系統(tǒng)和監(jiān)控系統(tǒng)。源儀電子采用三相交流...
2022-06-01 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)充電樁 3852 0
一種僅使用EMC工程師常備的頻譜儀和簡單的夾具就能進(jìn)行插損測試的方法
頻譜分析儀是EMC工程師用于EMI發(fā)射的測試和診斷必備的基礎(chǔ)測試工具。除利用頻譜儀的射頻信號(hào)測量功能之外,頻譜儀可以按如下要的要求進(jìn)行選型配置或選件功能...
2022-05-13 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)emc頻譜儀 6350 0
基于ATmega32單片機(jī)和CH375芯片實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
存儲(chǔ)測試是在對被測對象無影響或影響在允許范圍的條件下,在被測體或測試現(xiàn)場放置微型數(shù)據(jù)采集與存儲(chǔ)測試儀,現(xiàn)場實(shí)時(shí)完成信息的快速采集與記憶,事后回收并由計(jì)算...
2021-06-08 標(biāo)簽:芯片單片機(jī)測試系統(tǒng) 2532 0
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