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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測試行為,一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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ChrentLTE相關(guān)參數(shù)設(shè)定及使用CMW500進(jìn)行測試①先安裝一個(gè)USB驅(qū)動(dòng),MEIGUSBDriverV13.0.2.exe。此時(shí)管理中識(shí)別AT的C...
IEEE 802.11ax站點(diǎn)上行鏈路準(zhǔn)確性測試方案
羅德與施瓦茨(以下簡稱“R&S”公司)信號(hào)發(fā)生器和頻譜分析儀可用于測試 IEEE 802.11ax 站點(diǎn)上行鏈路準(zhǔn)確性。這一方案可支持測量 HE...
2022-03-04 標(biāo)簽:測試頻率信號(hào)發(fā)生器 3316 0
Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器的功能特性及應(yīng)用范圍
美國安捷倫 Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器這款新型信號(hào)發(fā)生器的操作非常簡單。它不僅可生成9 KHz到3 GHz的常見射頻信號(hào),而且利用其內(nèi)置...
2020-12-10 標(biāo)簽:測試射頻信號(hào)發(fā)生器 3313 0
匹配試驗(yàn)項(xiàng)目負(fù)性阻抗負(fù)性阻抗-R也稱為發(fā)振余裕度,用于評(píng)價(jià)晶振在發(fā)振回路上的發(fā)振能力。發(fā)振余裕度不足時(shí),會(huì)導(dǎo)致振蕩電路振蕩不穩(wěn)定甚至啟動(dòng)失效等問題。負(fù)性...
Fluke 726高精度多功能過程校驗(yàn)儀的性能特點(diǎn)及功能分析
Fluke 726 高精度多功能過程校驗(yàn)儀經(jīng)過精心設(shè)計(jì),非常適于那些關(guān)注寬廣的工作負(fù)載范圍、校準(zhǔn)能力的過程工業(yè)。726能夠以超高精度測量和輸出幾乎所有過...
數(shù)據(jù)測試用例設(shè)計(jì):因果圖方法
因果圖是一種利用圖解法分析輸入的各種組合情況,從而設(shè)計(jì)測試用例的方法,它適合于檢查程序輸入條件的各種組合情況。
2020-06-29 標(biāo)簽:測試因果圖大數(shù)據(jù) 3309 0
鈣鈦礦太陽能電池是以鈣鈦礦型晶體為主要吸光材料的太陽能電池,具有高光電轉(zhuǎn)換效率、結(jié)構(gòu)簡單、制備工藝多樣化、成本低等優(yōu)點(diǎn)。目前,單結(jié)鈣鈦礦太陽能電池的理論...
二極管是一種允許電流單向流動(dòng)的半導(dǎo)體器件,正常工作時(shí)正向壓降通常在0.3V至0.8V之間。數(shù)字萬用表通過測量并比較二極管正反向電壓降來判斷其好壞。在測試...
2024-09-10 標(biāo)簽:二極管測試數(shù)字萬用表 3237 0
Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹
了解在VC730 OTN測試開發(fā)平臺(tái)上運(yùn)行的Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器參考設(shè)計(jì)。 (簡明版)
2018-11-30 標(biāo)簽:測試賽靈思轉(zhuǎn)發(fā)器 3230 0
鋰離子電池隔膜性能的優(yōu)劣決定著鋰離子電池的容量、循環(huán)性能、充放電電流密度等關(guān)鍵特性,要求隔膜具有合適的厚度、離子透過率、孔徑和孔隙率及足夠的化學(xué)穩(wěn)定性、...
ADI公司所擁有的模塊設(shè)計(jì)和生產(chǎn)能力介紹
這個(gè)簡短視頻將介紹ADI公司所擁有的全面獨(dú)特的制造和測試能力的設(shè)備,該設(shè)備位于馬薩諸塞州切姆斯福德,已獲得ISO 9001和AS9100認(rèn)證。
2018-06-05 標(biāo)簽:測試adi模塊設(shè)計(jì) 3180 0
我們知道,如果一個(gè)公司提供涉及藍(lán)牙技術(shù)或使用任何藍(lán)牙商標(biāo)(包括“藍(lán)牙”字詞)的產(chǎn)品,則它首先必須成為 Bluetooth SIG 的成員并將產(chǎn)品完成藍(lán)牙...
EEMBC 的 CoreMark? 評(píng)分是一種比較通用的基準(zhǔn)測試方式,用于測量嵌入式系統(tǒng)中使用的微控制器(MCU)和中央處理單元(CPU)的性能,可以幫...
2023-10-09 標(biāo)簽:測試基準(zhǔn)測試編譯 3159 0
黑盒測試(Black-box Testing,又稱為功能測試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測試)是把測試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試時(shí),需要測試軟件產(chǎn)品的...
采用串行通信方式實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)中自動(dòng)測試設(shè)備和被測單元的通信設(shè)計(jì)
在某測試系統(tǒng)的開發(fā)中,需要用數(shù)據(jù)總線來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測試設(shè)備(Automatic Test Equipment,簡稱,ATE)和被測單元(Unit Under...
2020-04-09 標(biāo)簽:測試串行通信信號(hào)發(fā)生器 3139 0
如今,全球已經(jīng)進(jìn)入信息時(shí)代,包羅萬象的信息網(wǎng)是由一個(gè)個(gè)光纖鏈路組合而成,光纖網(wǎng)絡(luò)為實(shí)現(xiàn)5G的萬物互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。未來信息技術(shù)的前景依賴光網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定,無論在...
在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造中,連接器是不可或缺的組成部分。它們用于連接各種電子元件和電路板,確保電子設(shè)備的正常運(yùn)行。為了確保連接器的可靠性和穩(wěn)定性,制定了一...
對(duì)于電子測試工程師來說,USB2.0的信號(hào)質(zhì)量測試可以確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃裕⑶覝p少噪聲和干擾。今天我們一起學(xué)習(xí)一下具體操作過程。Chrent整體連接U...
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