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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測”與中文“試”兩個字組成的詞語。是動詞、名詞。測試行為,一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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如何快速搭建一個MQTT協(xié)議的測試環(huán)境
大家好,我是麥?zhǔn)?,之前有小伙伴建議出一期如何快速搭建一個MQTT協(xié)議的測試環(huán)境,因?yàn)樽约簩懙膍qtt測試工具總是有這樣那樣的問題。
通用測試系統(tǒng)架構(gòu) 通用化自動測試系統(tǒng)(ATS)主要由圖1所示的三個部分組成: ?主控計算機(jī)、 其中“主控計算機(jī)”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測試執(zhí)...
如何使用AP525測試泰凌硬件的音頻指標(biāo)(一)—基本音頻參數(shù)簡介
音頻的位深決定了所能表示的動態(tài)范圍,比如16位ADC動態(tài)范圍=20*lg(2^16/1)≈96dB,24位ADC動態(tài)范圍=20*lg(2^24/1)=1...
數(shù)據(jù)測試:網(wǎng)站測試清單
2020-06-29 標(biāo)簽:測試操作系統(tǒng)網(wǎng)站 2795 0
連接器測試項(xiàng)目有哪些 測試項(xiàng)目介紹
連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件,主要用于連接電路和傳輸信號。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此,對連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測試是非常...
Installing the Windows Android ADB driver for use with the Intel XDK Debug tab.
泰克示波器新頻譜分析功能Spectrum View的特點(diǎn)和應(yīng)用場景
前兩篇文章主要介紹了Spectrum View的功能特點(diǎn)及相關(guān)理論知識,與示波器傳統(tǒng)的FFT測試頻譜方法相比,Spectrum View具有獨(dú)到的優(yōu)勢,...
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載(E-Load)進(jìn)行測試,前面提到,負(fù)載的跳變斜率(Slew Rate)將對測試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響,然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制,常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽:測試轉(zhuǎn)換器MOSFET 2761 0
電源紋波大的問題通常和使用的示波器探頭以及前端的連接方式有關(guān)。 什么是電源紋波? 電源紋波指標(biāo)是開關(guān)電源模塊一項(xiàng)很重要的參數(shù)。電源紋波可以理解為電源模塊...
Fluke 725S多功能過程校驗(yàn)儀的主要特性和功能應(yīng)用分析
Fluke 725S多功能過程校驗(yàn)儀測試和校準(zhǔn)幾乎所有的過程參數(shù)。
而欺騙性雷達(dá)干擾,是模擬目標(biāo)的回波特性,使雷達(dá)獲得虛假目標(biāo)信息,作出錯誤判斷或增大雷達(dá)自動跟蹤系統(tǒng)的誤差。
DAB Announcement高效測試方案及應(yīng)用分析
本文檔主要講解了基于ETI測試流、基于IQ采集的數(shù)據(jù)流、基于專業(yè)射頻測試儀表三種DAB Announcement測試方案,以及這三種測試方案的總結(jié)比較和...
如何通過腳本方案實(shí)現(xiàn)對ECU進(jìn)行固件升級
由于使用圖形化的配置方式,QzTitan相比于使用硬編碼具有更強(qiáng)的靈活性,使得非軟件開發(fā)人員也能輕松使用。
ic自動化測試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測試原理和測試方法
測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入,讓芯片處于工作狀態(tài),之后給芯片的輸出端加載輸出電...
電源如何進(jìn)行效率測試 注意事項(xiàng)有哪些
效率是電源測試中十分常見的測試項(xiàng),高效的電源表現(xiàn)是眾多廠家一直追求的目標(biāo)。在芯片的規(guī)格書中,一般會提供幾種常見輸入輸出應(yīng)用下的效率曲線。當(dāng)我們實(shí)際的應(yīng)用...
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