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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。半導(dǎo)體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產(chǎn)品型號及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。半導(dǎo)體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產(chǎn)品型號及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝后,被切割為小的晶片(Die),然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線或者導(dǎo)電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond Pad)連接到基板的相應(yīng)引腳(Lead),并構(gòu)成所要求的電路;然后再對獨(dú)立的晶片用塑料外殼加以封裝保護(hù),塑封之后,還要進(jìn)行一系列操作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及打印等工藝。封裝完成后進(jìn)行成品測試,通常經(jīng)過入檢(Incoming)、測試(Test)和包裝(Packing)等工序,最后入庫出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 打印 切筋和成型 外觀檢查 成品測試 包裝出貨。
半導(dǎo)體封裝/模塊驗(yàn)證:高低溫濕熱環(huán)境的全流程解決方案
環(huán)境變化不是問題的來源,而是讓問題暴露出來的加速器。 在芯片、功率器件、模組、傳感器等電子元件的封測過程中,溫度、濕度、氣壓的變化會(huì)對其引腳焊接、...
2025-07-14 標(biāo)簽:芯片測試試驗(yàn)箱半導(dǎo)體測試 179 0
技術(shù)干貨 | DAC頻率響應(yīng)特性解析:從sinc函數(shù)衰減到補(bǔ)償技術(shù)
本章解析DAC頻率響應(yīng)特性,探討sinc函數(shù)導(dǎo)致的信號衰減規(guī)律,對比數(shù)字濾波與模擬濾波兩種補(bǔ)償技術(shù),幫助優(yōu)化AWG模塊輸出信號的頻率平坦度,提升測試測量精度。
2025-07-09 標(biāo)簽:芯片測試半導(dǎo)體測試ADC測試 143 0
技術(shù)干貨 | ATX7006線性計(jì)算與AD/DA動(dòng)態(tài)分析解析
想知道如何在ATX7006上進(jìn)行高精度線性度計(jì)算?如何通過傅里葉變換分析AD/DA轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)性能?本文詳細(xì)解析了線性計(jì)算的命令配置、結(jié)果獲取方法,以及...
2025-06-30 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試DAC測試AD/DA 498 0
技術(shù)干貨 | DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算全解析:從偏移誤差到總未調(diào)整誤差
上一期我們詳解了DAC的核心術(shù)語,本期繼續(xù)深入探討DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算!從偏移誤差、增益誤差到INL/DNL,再到未調(diào)整總誤差(TUE),一文掌握D/A轉(zhuǎn)...
2025-06-20 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試DAC測試靜態(tài)參數(shù) 1070 0
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。...
2025-05-15 標(biāo)簽:試驗(yàn)機(jī)可靠性測試半導(dǎo)體測試 257 0
電力電子半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備——高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱主要用于模擬高溫、低溫、濕度交變及恒定濕熱環(huán)境,評估產(chǎn)品在不同溫濕度條件下的耐久性、穩(wěn)定性及適應(yīng)性。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、功率...
2025-03-21 標(biāo)簽:芯片測試半導(dǎo)體測試環(huán)境測試 426 0
技術(shù)解答合集:干簧繼電器在測試測量中的應(yīng)用
哪些測試測量應(yīng)用使用干簧繼電器?干簧繼電器在多種電子元件和系統(tǒng)中執(zhí)行信號切換,包括但不限于:半導(dǎo)體測試儀自動(dòng)測試設(shè)備線束測試儀FCT功能測試儀絕緣測試儀...
2025-01-16 標(biāo)簽:繼電器測試測量自動(dòng)測試儀 1485 0
高低溫試驗(yàn)在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗(yàn)旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的...
2024-07-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試產(chǎn)品測試高低溫試驗(yàn)箱 829 0
晶圓測試的對象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測試需要連接測試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號。
2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲器半導(dǎo)體制程 2680 0
BH系列高壓干簧繼電器-測試測量與水銀繼電器替代的理想選擇!立即下載
類別:電子資料 2025-07-04 標(biāo)簽:測試測量ATE半導(dǎo)體測試
類別:電子資料 2025-01-10 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試
類別:電子資料 2021-12-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試BMS系統(tǒng)ceshi
類別:電子資料 2021-12-09 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試
吉時(shí)利2450源表在半導(dǎo)體測試中2線連接的優(yōu)劣對比
吉時(shí)利2450源表作為一款高精度、多功能電子測量儀器,在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其靈活的連接方式,包括2線制和4線制(凱爾文連接),為不同測試場景...
2025-06-23 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試源表 70 0
【展會(huì)回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕
近日,NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測試、功率半導(dǎo)體測試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門測試需求,以頂尖測試產(chǎn)品和...
2025-04-30 標(biāo)簽:電子制造半導(dǎo)體測試 371 0
近日,半導(dǎo)體測試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時(shí),就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測試需...
2025-01-03 標(biāo)簽:芯片測試半導(dǎo)體測試Advantest 550 0
Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動(dòng)化測試技術(shù)
在自動(dòng)化測試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測試儀、功率半導(dǎo)體測試設(shè)備、MEMS測試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車...
2024-12-06 標(biāo)簽:測試儀自動(dòng)化測量半導(dǎo)體測試 802 0
泰克信號發(fā)生器的半導(dǎo)體測試應(yīng)用
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體測試變得越來越復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號發(fā)生器作為測試設(shè)備的一個(gè)組成部分,扮演了越來越重要的角色。泰克信號發(fā)生...
2024-10-22 標(biāo)簽:信號發(fā)生器半導(dǎo)體測試 527 0
2024慕尼黑電子展(electronica China)于7月8日~10日盛大舉行。作為全球電子測試與測量領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),泰克科技攜最新測試解決方案精...
2024-07-11 標(biāo)簽:示波器半導(dǎo)體測試泰克科技 1036 0
半導(dǎo)體環(huán)境測試設(shè)備及測試標(biāo)準(zhǔn)_高低溫恒溫恒濕環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備
高低溫試驗(yàn)箱:能夠模擬從極低溫度到高溫的各種環(huán)境,檢測半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下的性能。這種設(shè)備對于評估半導(dǎo)體產(chǎn)品的耐溫范圍和穩(wěn)定性至關(guān)重要。 濕熱...
泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”
2024年6月6日,中國北京訊—— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)今日宣布,與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”的簽...
2024-06-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測試 901 0
積極應(yīng)對半導(dǎo)體測試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級
在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,中國“芯”正迎來前所未有的發(fā)展機(jī)遇。AI、5G、物聯(lián)網(wǎng)、自動(dòng)駕駛、元宇宙、智慧城市等終端應(yīng)用方興未艾,為測試行業(yè)帶來新的...
2024-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試加速科技 635 0
探索半導(dǎo)體測試領(lǐng)域:哲訊TCC智能化管理系統(tǒng)的應(yīng)用與優(yōu)勢
在半導(dǎo)體行業(yè)中,封裝和測試環(huán)節(jié)是至關(guān)重要的一環(huán)。半導(dǎo)體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產(chǎn)品型號及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。半導(dǎo)體封測包括封裝和測試...
2024-04-19 標(biāo)簽:封裝數(shù)字化半導(dǎo)體測試 776 0
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